鍍層測厚儀：多元迭代的EFP算法充分運(yùn)用各種已知條件及譜圖，參與運(yùn)算出更多使用者需求的檢測結(jié)果，關(guān)聯(lián)：已知、未知及半定量，成分、密度、輕元素、有機(jī)物、化合物等等。

產(chǎn)品型號(hào)：XU-100

更新時(shí)間：2025-10-20

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：557

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

物理特性分析儀器

表面張力儀測厚儀膜厚儀試驗(yàn)機(jī) 硬度計(jì) 恒溫恒濕高溫真空接觸角測量儀布氏硬度計(jì) 大平臺(tái)型接觸角測試儀高溫真空型接觸角測量儀接觸角便攜式接觸角測試儀全自動(dòng)接觸角測量儀潤濕性能接觸角測量儀手動(dòng)接觸角測量儀自動(dòng)型接觸角測量儀親水性接觸角測量儀

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產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品是利用螢光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類。

簡單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。

具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性。

隨著科技的發(fā)展，越來越多的行業(yè)開始采用鍍金表面處理，用于提升產(chǎn)品的綜合質(zhì)量。電鍍金鍍層耐蝕性強(qiáng)，導(dǎo)電性好，易于焊接，耐高溫，并具有一定的耐磨性(如摻有少量其他元素的硬金)，有良好的抗變色能力，同時(shí)金合金鍍層有多種色調(diào)，在銀上鍍金可防止變色。并且鍍層的延展性好，易拋光，故常用作裝飾性鍍層，如鍍首飾、鐘表零件、藝術(shù)品等；也廣泛應(yīng)用于精密儀器儀表、印刷板、集成電路、電子管殼、電接點(diǎn)等要求電參數(shù)性能長期穩(wěn)定的零件電鍍，但由于金的價(jià)格昂貴，應(yīng)用受到一定限制。

技術(shù)難點(diǎn)：故此鍍金產(chǎn)品對于鍍層的管控極為的嚴(yán)格，然而由于鍍層很薄，能量弱，穩(wěn)定性差，想要良好的管控成本及產(chǎn)品質(zhì)量，就需要一臺(tái)性能很好的光譜儀進(jìn)行檢測分析。

檢測報(bào)告：下圖為黃銅鍍化學(xué)鎳鍍金的檢測報(bào)告，XAU-4CS一機(jī)多用型熒光光譜儀/鍍層測厚儀/膜厚測試儀可滿足精密電子類客戶對于薄金納米級(jí)厚度的管控，實(shí)現(xiàn)檢測同一個(gè)點(diǎn)的薄金厚度，極差穩(wěn)定在1個(gè)納米。

上一個(gè)：SDC-100PLUS薄膜接觸角測量儀